产品名称: JX-40M 金相显微镜 硅片检测显微镜 材料检测 电极检测

■JX-40M作为改良型金相显微镜，整合了我们销量机型JX-4R及研发的JX-50M研究级金相显微镜的多项技术优势，并根据市场需求重新优化配置整体性能。

■JX-40M以良好的成像性能、舒适的操作体验，为客户提供高性价比的金相分析及工业检测解决方案。

■新改良的LMPlan系列长工作距金相物镜，提升色差校正水平，同时调整膜系设计，进一步提升图像分辨率与色彩还原性。

■采用新生儿睡床舒适角度（30°）的观察筒，能够缓解用户在长时间工作状态下的紧张与疲劳，保证很好的观察状态。观察筒上的刻度，方便用户自行调节瞳距范围。

■落射照明器采用LED柯拉照明系统，带视场光阑、孔径光阑和斜照明装置；预设起偏镜、检偏镜与滤色片插槽。

■单颗5W LED 暖白光照明（3000-3300K），与同类LED照明相比，能降低观察者的视觉疲劳。

■视场光阑与孔径光阑拉杆装置，中心可调, 能灵活调节照明范围的大小，有效避免杂光对图像的影响。

■起偏镜与检偏镜可实现简易偏光观察，您也可根据需求，选择不同颜色的滤色片获得理想的观察效果。

■透反射机架可放置样品高达28mm，反射机架通过旋转右图相同位置螺钉，可将载物台下降50mm，从而使z大样品高度可达78mm。

■M4直柄内六角扳手随机存放，充分利用了机身的可用空间，触手可及的工具使您的操作更加便捷。

■随机限位装置，可有效防止样品与物镜碰触，避免损伤。

■采用JX-50M优秀的聚光系统，数值孔径更大，亮度更高，大幅提升透射光通过率。

■JX-40M可提供明场、斜照明、简易偏光等多种观察功能，明场图像高亮度、高分辨率、正色还原；斜照明能凸显直观立体浮雕效果。